UFCA abre inscrições para curso com o professor José Marcos Sasaki, referência na área de difração de raios X. Formação ocorre em outubro

Entre os dias 6 e 10 de outubro de 2025, a Universidade Federal do Cariri (UFCA) vai receber o professor José Marcos Sasaki – referência na área de difração de raios X. A difração de raios X é usada para analisar materiais, identificando fases e fornecendo informações sobre parâmetros estruturais.

Na UFCA, Sasaki vai ministrar uma capacitação sobre o método Rietveld. O curso faz parte das ações de extensão do Programa de Pós-Graduação em Ciência e Engenharia de Materiais (PPGCEM/UFCA) e tem como público-alvo docentes, servidores técnico-administrativos, estudantes (de graduação e de pós-graduação) da UFCA e de outras instituições de ensino, além de profissionais que atuam na indústria.

Ao todo, serão ofertadas 30 vagas. Dada a limitação de vagas, a organização do curso disponibilizou um formulário de pré-inscrição, no qual os interessados podem sinalizar a intenção de participar do curso.

Esse formulário receberá inscrições até 15 de agosto de 2025. Na pré-inscrição, não é necessário qualquer tipo de pagamento.

Para efetivar a participação no curso, no entanto, os interessados terão que fazer um investimento referente à taxa de inscrição, que pode variar de acordo com o público-alvo e com a data em que a inscrição é realizada. 

Os valores da taxa de inscrição para cada público podem ser acessados na página do Laboratório de Raios X da UFC. As instruções para pagamento da taxa de inscrição serão enviadas para os inscritos posteriormente.

Marcos Sasaki

Docente da Universidade Federal do Ceará (UFC) há 30 anos, Sasaki é doutor em Física pela Universidade Estadual de Campinas (Unicamp) e desenvolve pesquisas nas áreas de teoria dinâmica da difração de raios X, de nanopartículas e de método Rietveld. Este último será tema do curso ofertado na UFCA. 

Método Rietveld de Refinamento de Estrutura

O Método Rietveld foi criado em 1967 por Hugo Rietveld (1932-2016) e é usado para analisar dados obtidos em uma difração de raios X. A difração de raios X, por sua vez, consiste na análise das chamadas estruturas cristalinas: forma como os átomos, íons ou moléculas se organizam espacialmente em um material sólido.

Esse método de análise é amplamente utilizado em áreas como ciência dos materiais, geologia, farmacologia e química, para caracterizar a estrutura de diferentes substâncias. O professor Sasaki, por exemplo, faz uso desse método desde 1996 para caracterização de materiais policristalinos.

Curso sobre o Método Rietveld 

O curso ocorrerá no Laboratório de Caracterização de Materiais (bloco L) e em um sala aula, ambos no campus Juazeiro do Norte da UFCA, das 8h às 18h. 

A formação terá carga horária de 40 horas (8 horas de aulas teóricas e 32 horas de tutoria). Para realização das atividades práticas do curso, é obrigatório que os participantes tragam o notebook pessoal.

O conteúdo programático completo do curso pode ser acessado na página do Laboratório de Raios X da UFC.

Além do PPGCEM/UFCA e do Laboratório de Raios X da UFC, o curso sobre o Método Rietveld tem o apoio da Malvern Panalytical. Com sede no Reino Unido, a Malvern Panalytical é especializada no fornecimento de instrumentos analíticos de laboratórios. 

Serviço

Centro de Ciências e Tecnologia
cct@ufca.edu.br